电子元器件老化筛选小知识(如何对电子元器件进行检验和筛选)

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1.如何对电子元器件进行检验和筛选
动手准备元器件之前，最好对照电路原理图列出所需元器件的清单。

为了保证在试制的过程中不浪费时间，减少差错，同时也保证制成后的装置能长期稳定地工作，待所有元器件都备齐后，还必须对其筛选检测。 在正规的工业化生产中，都设有专门的元器件筛选检测车间，备有许多通用和专用的筛选检测装备和仪器，但对于业余电子爱好者来说，不可能具备这些条件，即使如此，也绝不可以放弃对元器件的筛选和检测工作，因为许多电子爱好者所用的电子元器件是邮购来的，其中有正品，也有次品，更多的是业余品或利用品，如在安装之前不对它们进行筛选检测，一旦焊入印刷电路板上，发现电路不能正常工作，再去检查，不仅浪费很多时间和精力，而且拆来拆去很容易损坏元件及印刷电路板。

⑴外观质量检查 拿到一个电子元器件之后，应看其外观有无明显损坏。如变压器，看其所有引线有否折断，外表有无锈蚀，线包、骨架有无破损等。

如三极管，看其外表有无破损，引脚有无折断或锈蚀，还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件，还要检查在调节范围内，其活动是否平滑、灵活，松紧是否合适，应无机械噪声，手感好，并保证各触点接触良好。

各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求，各位爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点，积累经验。 ⑵电气性能的筛选 要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作，并且经得起应用环境和其它可能因素的考验，对电子元器件的筛选是必不可少的一道工序。

所谓筛选，就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验，暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是：如果试验及应力等级选择适当，劣质品会失效，而优良品则会通过。

人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝。

这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线，如图1所示。 电子元器件失效的原因，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。

元器件的早期失效十分有害，但又不可避免。因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性。

在正规的电子工厂里，采用的老化筛选项目一般有：高温存贮老化；高低温循环老化；高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电，模拟实际工作条件，再加上+80℃-+180℃的高温经历几个小时，它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施，也是目前采用得最多的一种方法。

对于业余爱好者来说，在单件电子制作过程中，是不太可能采取这些方法进行老化检测的，在大多数情况下，采用了自然老化的方式。例如使用前将元器件存放一段时间，让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验，然后再来检测它们的电性能，看是否符合使用要求，优存劣汰。

对于一些急用的电子元器件，也可采用简易电老化方式，可采用一台输出电压可调的脉动直流电源，使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压，调整流过元器件的电流强度，使其功率为1.5-2倍额定功率，通电几分钟甚至更长时间，利用元器件自身的特性而发热升温，完成简易老化过程。 ⑶元器件的检测 经过外观检查以及老化处理后的电子元器件，还必须通过对其电气性能与技术参数地测量，以确定其优劣，剔除那些已经失效的元器件。

当然，对于不同的电子元器件应有不同的测量仪器，但对于业余电子爱好者来说，一般不具备专用电子测量仪器的条件，但起码应有一块万用电表，利用万用电表可以对一些常用的电子元器件进行粗略检测。各种电子元器件涉及到的电性能参数很多，我们要根据业余制作牵涉到的必须要弄清楚的有关参数进行检测，而不必对该元器件的所有参数都一一检测。

下面例举几种基本元器件的检测。 ①电阻器。

它是所有电子装置中应用最为广泛的一种元件，也是最便宜的电子元件之一。它是一种线性元件，在电路中的主要用途有：限流、降压、分压、分流、匹配、负载、阻尼、取样等。

检测该元件时，主要看它的标称阻值与实际测量阻值的偏差程度。在大量的生产中，由于加工过程中各道工序对电阻器的作用，电阻器的实际值不可能做到与它的标称值完全一致，因此其阻值具有离散性，为了便于管理和组织生产，工程上按照使用的需要，给出了允许偏差值，如±5%、±10%、±20%。

再加上万用电表检测电阻器时的误差，一般要求其误差不超过允许偏差的10%即认为合格。同时亦可通过外观检查综合判断其优劣。

②电容器。电容器也是电子装置中用得最多的电子元器件之一。

它的质量好坏直接影响到整机的性能，同时也是容易失效的元件。在检查电容器时，如果电解电容器的贮。
2.半导体二极管,三极管的筛选及老化方法有哪些
检查的主要内容如下：

②电位器、可变电容器和可调电感器等元件，调动时应该旋转平稳，无跳变或卡死现象。 ④胶木件表面无裂纹、起泡和分层。瓷质件表面光洁平整，无缺损。 ⑤带有密封结构的元器件，密封部位不应损坏和开裂。 ⑥镀银件表面光亮，无变色和发黑现象。 2畅元器件的筛选和老化 ③接插件应插拔自如，插针、插孔镀层光亮，无明显氧化和玷污。 ①元器件外观应完整无损，标注清晰，引线和接线端子无锈蚀和明显氧化。 筛选和老化的目的是剔除因某种缺陷而导致早期失效的元器件，从而提高元器件的使用寿命和可靠性。因此，凡有筛选和老化要求的元器件，在整机装配前必须按照整机产品技术要求和有关技术规定进行严格的筛选和老化。 然而在课堂化的业余条件下，不具备对元器件进行正规的筛选和老化的条件，只有借助于万用表和有关通用仪器对元器件进行一般的检测，对阻容元件、二极管、三极管、集成电路、

电感线圈、电位器等元件的一般检测在前面已学过的课程中已作介绍，这里不再叙述。而电视机生产厂家具备对元器件进行筛选和老化的条件，且由专业人员操作，比较复杂。下面以对半导体二极管、三极管和集成电路的筛选和老化的技术要求为例作简要介绍，仅供学生参考。 （1）半导体二极管、三极管的筛选和老化 ①筛选程序：

b畅三极管：高温储存→温度冲击→跌落（大功率管不做）→高温反偏（硅PNP管）→功率老化→高低温测试（必要时做）→常温测试→检漏→外观检查。

心→功率老化。 筛选程序可根据具体情况作相应变化，但其主要项目有：高温储存→温度冲击→跌落或离 ②条件及要求：

储存时间：A级48h,B级96h。 储存温度：硅二极管（150±3）℃；硅三极管（175±3）℃；锗二极管、三极管（100±2）℃。 a畅高温储存漏电流→常温测试→检漏→外观检查。 a畅二极管（此处指整流二极管）：高温储存→温度冲击→敲击→功率老化→高温测试反向

锗元件：（-55±3）℃茨（85±2）℃。 b畅温度冲击

硅元件：（-55±3）℃茨（125±3）℃。 先低温后高温，转换时间小于1min，每种状态下放置1h，循环次数为5次。

允许曲线有跳动现象。敲击次数为3~5次。 c畅敲击 在专用夹具上，用小锤敲击器件，并用图示仪监视最大工作电流正向曲线。不

在c-b极间加反向电压（具体电压值按技术部门的指定值）。反偏时间约4h，漏电流不超过规定值。 f畅高温测试 试验温度锗二极管为（70±2）℃，锗中小功率三极管为（55±2）℃，锗大功 g畅低温测试 试验温度为（-55±3）℃，恒温时间为30min。

i畅检漏 按技术文件规定进行。 （2）半导体集成电路的筛选 h畅常温测试 按技术文件规定进行。 e畅高温反偏 锗管在（70±2）℃，硅管在（125±3）℃下，二极管加额定反向电压，三极管 d畅功率老化 在常温下，按技术要求通电老化。老化时间A级12h,B级24h。率三极管为（75±2）℃，硅二、三极管为（125±3）℃。恒温时间为30min。 ①高温储存 它的作用是通过高温加热，加速任何可能发生或存在的表面化学反应，使 储存条件：温度150~(175±5)℃，储存时间为48h或96h。150℃适用于环氧扁平封装 循环条件：温度为（-55±3）℃茨（125±3）℃。先低温后高温，每种温度下保持30min， ②温度循环 此项目能检验电路内不同结构材料的热胀冷缩性是否匹配。电路稳定，剔除潜在的失效电路。的电路，175℃适用于其他材料封装的电路。
3.我想请教有关电子元器件的使用寿命
要求供应商、本单位技术部门等提供这些产品的标准或技术文件，在这些文件中可以查到型式试验或例行试验的内容，其中会有老化或寿命试验的方法、设备或装置、技术要求、合格与否的判断等。

这个工作可以称为可靠性试验，要搞清做这工作的目的，是为了提高产品的可靠性水平，还是仅仅为了应付检查。

如果按正规的做法，工作量是非常大的，需要一个团队、需要许多专用的设备和装置、需要很长的时间，费用也很大。（比如，继电器有机械寿命和电气寿命，一般都是几十万次）

如果你单位的技术负责人确实是内行，就应该知道，你列出的这些元器件类别中，大多数使用方是不需要做寿命试验的，一般是做进厂检验，也可以根据与供方的合同做老练筛选，用得较多的是高温老练。但都应依产品标准或技术文件的有关规定为依据，或由本单位技术部门出技术文件。