光电探测器的暗电流危害是什么?

如题所述

对电池片而言,始终是有一些有害的杂质和缺陷的,有些是材料本身就有,也有的是在工艺中形成的,这些有害的杂质和缺陷可以起到复合中心的作用,可以俘获空穴和电子,使它们复合,复合过程始终伴随着载流子的定向移动,必然会有微小的电流产生,这些电流对测试所得的暗电流的值是有贡献的,由薄层贡献的部分称之为薄层漏电流,由体区贡献的部分称之为体漏电流。测试漏电流主要有两个目的。首先,防止击穿。如果电池片做成组件时,电池片的正负极被接反,或者组件被加上反偏电压时,由于电池片的暗电流过大,电流叠加后会迅速地将电池片击穿,不过这样的情况很少发生,所以测试暗电流在这方面作用不是很大。其次,监控工艺。当电池片工艺流程结束后,可以通过测试暗电流来观察可能出现的工艺问题。

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第1个回答  2017-11-26

暗电流(dark current), 也称无照电流,指在没有光照射的状态下,在太阳电池、光敏二极管、光导电元件、光电管等的受光元件中流动的电流。[1]  在光电技术、太阳能、传感器、生物物理学等领域都有相关定义。

生理学方面的暗电流,是指在无光照时视网膜视杆细胞的外段膜上有相当数量的Na离子通道处于开放状态,故Na离子进入细胞内,而内段上的Na泵又将Na离子泵出细胞外,从而形成一个从内段流向外段的电流,称为暗电流(dark current)。视杆细胞在静息(非光照)状态时,由于胞质内CGMP浓度很高,所以感受器细胞外段膜上的钠通道处于开放状态,钠离子流入胞内,形成从视杆细胞外段流向内段的电流,称为暗电流(dark current),这时感受器细胞处于去极化状态,其突触终末释放兴奋性递质谷氨酸。

暗电流是指器件在反偏压条件下,没有入射光时产生的反向直流电流。(它包括晶体材料表面缺陷形成的泄漏电流和载流子热扩散形成的本征暗电流。

暗电流起因于热激励产生的电子空穴对,其中耗尽区内产生的热激励是主要的,其次是耗尽区边缘的少数电荷的热扩散,还有界面上产生的热激励。暗电流的产生需要一定的时间,势阱存在时间越长,暗电流也越大。为了减小暗电流,应尽量缩短信号电荷的存储与转移时间,暗电流限制了成象器件的灵敏度与动态范围。暗电流的大小与温度的关系极为密切,温度每降低10℃,暗电流约减小一半。

第2个回答  2017-11-26

测量暗电流的意义在于表征太阳能电池的整流效应。好的太阳能电池应该有比较高的整流比,也就是正向暗电流比反向暗电流高越多越好。对于太阳能电池而言,暗电流不仅仅包括反向饱和电流,还包括薄层漏电流和体漏电流。
反向饱和电流是指给肖特基势垒加一反偏电压时,外加的电压使它的耗尽层变宽,内建电场变大,电子的电势能增加,P区和N区的多数载流子(P区多为空穴,N区多为电子)就很难越过势垒,因此扩散电流趋近于零,但是由于结电场的增加,使得N区和P区中少数载流子更容易产生漂移运动。在这种情况下,肖特基势垒内的电流由起支配作用的漂移电流决定。漂移电流的方向与扩散电流的方向相反,表现在外电路上有一个流入N区的反向电流,它是由少数载流子的漂移运动形成的。由于少数载流子是由本征激发而产生的,在温度一定的情况下,热激发产生的数量是一定的,电流趋于恒定。太阳能电池片可以分为3层,即薄层(即N区)、耗尽层(即肖特基)、体区(即P区)。

光电探测器的暗电流危害是什么?
对电池片而言,始终是有一些有害的杂质和缺陷的,有些是材料本身就有,也有的是在工艺中形成的,这些有害的杂质和缺陷可以起到复合中心的作用,可以俘获空穴和电子,使它们复合,复合过程始终伴随着载流子的定向移动,必然会有微小的电流产生,这些电流对测试所得的暗电流的值是有贡献的,由薄层贡献的部分称之为...

光电效应实验中,暗电流是如何形成的?有何意义?
暗电流一般是由热生载流子形成的,它会影响到探测器的最小极限探测能力,即最小可探测功率

光电探测器暗电流大的原因
温度影响、杂质和缺陷。1、温度影响:光电探测器的暗电流通常会受到温度的影响。当温度较高时,材料中的载流子(例如电子或空穴)会增加,从而导致暗电流增大。2、温度影响:光电探测器的暗电流会受到温度的影响。当温度较高时,材料中的载流子(例如电子或空穴)会增加,从而导致暗电流增大。

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