如何确定超声波探伤缺陷的当量大小 斜探头

Answer 1

超声波探伤超声波发射接收都通探实现探种类结构型式探伤前应根据检象形状、衰减技术要求选择探探选择包括探型式、频率、晶片尺寸斜探K值选择等
1.探型式选择
用探型式纵波直探、横波斜探表面波探、双晶探、聚焦探等般根据工件形状能现缺陷部位、向等条件选择探型式使声束轴线尽量与缺陷垂直
纵波直探能发射接收纵波束轴线垂直于探测面主要用于探测与探测面平行缺陷锻件、钢板夹层、折叠等缺陷
横波斜探通波形转换实现横波探伤主要用于探测与深测面垂直或定角缺陷焊缝未焊透、夹渣、未溶合等缺陷
表面波探用于探测工件表面缺陷双晶探用于探测工件近表面缺陷聚焦探用于水浸探测管材或板材
2.探频率选择
超声波探伤频率O.5～10MHz间选择范围般选择频率应考虑索
(1)由于波绕射使超声波探伤灵敏度约提高频率利于发现更缺陷
(2)频率高脉冲宽度辨力高利于区相邻缺陷
(3) 知频率高波短则半扩散角声束指向性能量集利于发现缺陷并缺陷定位
(4) 知频率高波短近场区度探伤利
(5) 知频率增加衰减急剧增加
由析知频率离低探伤较影响频率高灵敏度辨力高指向性探伤利频率高近场区度衰减探伤利实际探伤要全面析考虑各面索合理选择频率般保证探伤灵敏度前提尽能选用较低频率
于晶粒较细锻件、轧制件焊接件等般选用较高频率用2.5～5.0MHz晶粒较粗铸件、奥氏体钢等宜选用较低频率用O.5～2.5MHz频率高引起严重衰减示波屏现林状波信噪比降甚至探伤
3.探晶片尺寸选择科朴道超声波探伤仪
探圆晶片尺寸般φ10～φ30mm晶片探伤定影响选择晶片尺寸要考虑素
(l) 知晶片尺寸增加半扩散角减少波束指向性变超声波能量集探伤利
(2)由N=等知晶片尺寸增加近场区度迅速增加探伤利
(3)晶片尺寸辐射超声波能量探未扩散区扫查范围远距离扫查范围相变发现远距离缺陷能力增强
析说明晶片声柬指向性近场区度、近距离扫查范围远距离缺陷检能力较影响实际探伤探伤面积范围工件提高探伤效率宜选用晶片探探伤厚度工件效发现远距离缺陷宜选用晶片探探伤型工件提高缺陷定位定量精度宜选用晶片探探伤表面太平整曲率较工件减少耦合损失宜选用晶片探
4.横渡斜探K值选择
横波探伤探K值探伤灵敏度、声束轴线向波声程(入射点至底面反射点距离)较影响由图l.39知于用机玻璃斜探探伤钢制工传βs=40°(K=O.84)左右声压往复透射率高即探伤灵敏度高由K=tgβs知K值βs波声程实际探伤工件厚度较应选用较K值便增加波声程避免近场区探伤工件厚度较应选用较K值

面给用超声波斜探选择案参考：
1.斜探K值与角度应关系
NO. K值 应角度
1 K1 应45度
2 K1.5 应56.3度
3 K2 应63.4度
4 K2.5 应68.2度
5 K3 应71.6度

2.焊缝探伤超声波探选择案参考
编号 测工件厚度 选择探斜率 选择探斜率
1 4—5mm 6×6 K3 锈钢：1.25MHz （同）
2 6—8mm 8×8 K3 铸铁：0.5—2.5 MHz（同）
3 9—10mm 9×9 K3 普通钢：5MHz （同）
4 11—12mm 9×9 K2.5
5 13—16 mm 9×9 K2
6 17—25 mm 13×13 K2
7 26—30 mm 13×13 K2.5
8 31—46 mm 13×13 K1.5
9 47—120 mm 13×13( K2—K1)
10 121—400 mm 18×18 ( K2—K1)
20×20 ( K2—K1)
感觉这样的提问没有意义
感觉这样的提问没有什么意义哈