CPK的计算方法

Question

cpk＝Min[(USL-AVG）/3*δ,(AVG-LSL)/3*δ]

Min： 取最小值 --〉什么的最小值？
δ ： 样品标准偏差，西格玛--〉具体的计算方法是？

Answer 1

信息安全领域的定义：CPK是“Combined Public Key”的缩写，即中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。
工程领域的定义：CPK是“Process Capability Index” 的缩写。CPK的中文定义为：制程能力指数，是现代企业用于表示制程能力的指标，也即某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
计算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ
注意: 计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，而且数据要具有一定代表性。

Answer 2

单侧上限.Tu为规格上限,下限无要求:
Cp=Tu-μ/3σ≈Tu-x（靶）/3S
单侧下限。Tl为规格下限，上限无要求：Cp=μ-Tl/3σ≈-x（靶）-Tl/3S
假如你的测量值是
形位公差
的话，理论上讲越接近0,就越好,所以你的
M值
因设置为0,还有它的计算公式注意分母的取值,是用
极差
的还是用标准差.你这个做
控制图
的话，就是
单值
移动极差
图，看
你现在
的数据有好几个超差的，先去了解一下原因，在做CPK的前提是你的过程要是稳定状态的，也就是说要符合正态分布，希望对你有帮助。

Answer 3

3ae016a4daaa31256db6bd4a088c4dc0

Answer 4

CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
8. 依据公式： ， 计算出制程准确度：Ca值
9. 依据公式：Cp = ， 计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp ， 计算出制程能力指数：Cpk值
11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

参考资料：http://bbs.6sq.net/viewthread.php?tid=43227；http://www.2008red.com/member_pic_53/files/yanxb/html/article_3618_1.shtml